Seminarium Optyczne
sala 1.40, ul. Pasteura 5
dr Ireneusz Grulkowski (Instytut Fizyki Uniwersytetu Mikołaja Kopernika w Toruniu)
Interferometryczne obrazowanie, metrologia i biometria w zakresie podczerwieni z użyciem strojonych źródeł światła
Infrared interferometric imaging, metrology and biometry with wavelength swept light sources
Metody optyczne należą do szybko rozwijającej się dziedziny obrazowania, za pomocą których można przedstawiać wewnętrzną strukturę obiektów z rozdzielczością mikrometryczną. Wykorzystanie światła w zakresie bliskiej podczerwieni pozwala na realizację zarówno obrazowania mikroskopowego jak i mezoskopowego. Pierwotnie, interferometria w zakresie podczerwieni była powszechnie wykorzystywana w metrologii. Intensywne badania w tej dziedzinie doprowadziły do rozwoju interferometrycznych metod obrazowania. Wśród nich istotne miejsce zajmuje tomografia optyczna OCT, która znalazła zastosowanie w przemyśle oraz w naukach biologicznych i medycznych, dzięki potencjałowi diagnostycznemu oraz możliwości uzyskiwania informacji o fizjologii tkanek, czy też komórek w sposób nieinwazyjny. Obrazowanie interferometryczne pozwala na otrzymanie informacji jakościowej oraz ilościowej na temat mikrostruktury obrazowanego obiektu.W referacie zaprezentowane zostaną układy do pomiarów przedniego odcinka oka w technologii OCT z wykorzystaniem strojonych źródeł światła w zakresie podczerwieni. Omówiona zostanie metodologia prowadząca do uzyskania ilościowych informacji na temat obrazowanych obiektów, w tym badania biometryczne oka ludzkiego. Przedstawione zostaną również najnowsze osiągnięcia związane z zastosowaniem nowych źródeł światła w technologii OCT, w tym obrazowanie o długim zasięgu osiowym w zastosowaniach okulistycznych do pomiaru odległości wewnątrzgałkowych (tzw. biometria okularowa OCT) oraz porównanie z innymi metodami stosowanymi klinicznie. Dodatkowo, zostaną pokazane prezyzyjne badania metrologiczne, reflektometryczne oraz mikroprofilometryczne w odniesieniu do zastosowań przemysłowych