Obrona pracy doktorskiej
2009-12-10 (14:30), Sala Wykładowa Instytutu Geofizyki (sala 109), ul. Pasteura 7 
Tomasz Antosiewicz (Instytut Geofizyki)
Wpływ nanostruktury sondy metalizowanej na rozdzielczość optycznego mikroskopu skaningowego bliskiego pola
Promotor: prof. dr hab. Tomasz Szoplik
Recenzenci: prof. dr hab. Jerzy Kamiński; dr hab. inż. Włodzimierz Salejda, prof. PWr.
Data nadania: 2009-12-02
Z pracą można zapoznać się w Bibliotece Instytutu Geofizyki Wydziału Fizyki UW, ul. Pasteura 7