Obrona pracy doktorskiej
mgr Rafał Brygoła
Metody charakteryzacji profilu powierzchni soczewek kontaktowych z użyciem mikroskopii sił atomowych oraz optycznej mikroskopii konfokalnej
Promotor: dr hab. Jacek Pniewski
Recenzenci: dr hab. inż. Damian Siedlecki (Politechnika Wrocławska); dr hab. inż. Mateusz Śmietana, prof. ucz. (Politechnika Warszawska)
Z pracą można zapoznać się na stronie https://www.fuw.edu.pl/obrony-rozpraw-doktorskich.html